Single Electron Fault in QCA Binary Wire

Author(s):

Mozhdeh Mahdavi*

Message:
Abstract:
Quantum Cellular Automata (QCA) represents an emerging technology at the nanotechnology level. There are various faults which may occur in QCA cells. One of these faults is the Single Electron Fault (SEF) that can happen during manufacturing or operation of QCA circuits. A detailed simulation based logic level modeling of Single Electron Fault for QCA binary wire is represented in this paper.
Keywords:

Quantum Cellular Automata , Single Electron Fault , Binary Wire

Language:
Persian
Published:
Electronics Industries, Volume:1 Issue: 3, 2010
Pages:
47 to 57
magiran.com/p1435632  
دانلود و مطالعه متن این مقاله با یکی از روشهای زیر امکان پذیر است:
اشتراک شخصی
با عضویت و پرداخت آنلاین حق اشتراک یک‌ساله به مبلغ 1,390,000ريال می‌توانید 70 عنوان مطلب دانلود کنید!
اشتراک سازمانی
به کتابخانه دانشگاه یا محل کار خود پیشنهاد کنید تا اشتراک سازمانی این پایگاه را برای دسترسی نامحدود همه کاربران به متن مطالب تهیه نمایند!
اطلاعات بیشتر
توجه!
  • حق عضویت دریافتی صرف حمایت از نشریات عضو و نگهداری، تکمیل و توسعه مگیران می‌شود.
  • پرداخت حق اشتراک و دانلود مقالات اجازه بازنشر آن در سایر رسانه‌های چاپی و دیجیتال را به کاربر نمی‌دهد.
In order to view content subscription is required

Personal subscription
Subscribe magiran.com for 70 € euros via PayPal and download 70 articles during a year.
Organization subscription
Please contact us to subscribe your university or library for unlimited access!
More information