کاهش نرخ خطای نرم چندگانه مدارهای ترکیبی مبتنی بر اندازه گذاری دروازه ها بر مبنای پارامتر حساسیت
نویسنده:
چکیده:
یکی از مهم ترین چالش ها برای سیستم های دیجیتال در مقیاس نانو، کاهش قابلیت اطمینان ناشی از افزایش نرخ خطای نرم این سیستم ها می باشد. با رسیدن ابعاد تکنولوژی CMOS به مقیاس نانو، نرخ خطای گذرای چندتایی ناشی از برخورد یک ذره پرانرژی به سطح تراشه ها بیش از نرخ خطای گذرای تک رخدادی خواهد بود. بنابراین، در فرآیند طراحی این سیستم ها، تکنیک های بهینه سازی باید به صورت آگاه از خطاهای گذرای چندتایی انتخاب شوند. در این مقاله، چارچوبی جدید برای بهبود تحمل پذیری مدارهای ترکیبی در برابر خطاهای چندتایی ارائه شده است. در این چارچوب، با اندازه گذاری مجدد دروازه های حساس، پوشش الکتریکی این دروازه ها افزایش داده شده است و از این طریق، نرخ خطای نرم چندتایی مدارهای ترکیبی بهبود یافته است. نتایج به دست آمده از آزمایش های تجربی بر روی مدارهای محک ISCAS’85 نشان می دهد که اندازه گذاری مجدد دروازه ها در حضور همزمان گذارهای چندرخدادی و تک رخدادی با استفاده از چارچوب پیشنهادی، موجب بهبود 4X نرخ خطای نرم مدار در مقایسه با پیش از اندازه گذاری دروازه های مدار و همچنین بهبود 2X نرخ خطای نرم مدار در مقایسه با زمانی خواهد بود که اندازه گذاری دروازه ها تنها در حضور گذارهای تک رخدادی انجام می گیرد؛ درحالی که سربار مساحت ناشی از دو روش یکسان می باشد.
کلیدواژگان:
زبان:
فارسی
صفحات:
445 تا 454
لینک کوتاه:
magiran.com/p1661851
دانلود و مطالعه متن این مقاله با یکی از روشهای زیر امکان پذیر است:
اشتراک شخصی
با عضویت و پرداخت آنلاین حق اشتراک یکساله به مبلغ 1,390,000ريال میتوانید 70 عنوان مطلب دانلود کنید!
اشتراک سازمانی
به کتابخانه دانشگاه یا محل کار خود پیشنهاد کنید تا اشتراک سازمانی این پایگاه را برای دسترسی نامحدود همه کاربران به متن مطالب تهیه نمایند!
توجه!
- حق عضویت دریافتی صرف حمایت از نشریات عضو و نگهداری، تکمیل و توسعه مگیران میشود.
- پرداخت حق اشتراک و دانلود مقالات اجازه بازنشر آن در سایر رسانههای چاپی و دیجیتال را به کاربر نمیدهد.
In order to view content subscription is required
Personal subscription
Subscribe magiran.com for 70 € euros via PayPal and download 70 articles during a year.
Organization subscription
Please contact us to subscribe your university or library for unlimited access!