لایه نشانی نانوذرات کادمیوم تلوراید روی زیرلایه های رسانای شفاف به روش تبخیر حرارتی

نانوذرات کادمیوم تلوراید با روش تبخیر حرارتی در دمای زیرلایهC °200 و فشار  بر روی زیرلایه های شیشه ای که با لایه های نازک شفاف و رسانای اکسید ایندیم آلاییده به قلع (ITO) و اکسید قلع آلاییده شده با فلورین (FTO) پوشش داده شده است، لایه نشانی شد. ضخامت لایه های تهیه شده حدود nm200 تعیین شد. ساختار، خواص اپتیکی، الکتریکی و ریخت شناسی سطح لایه ها به ترتیب توسط پراش پرتو ایکس (XRD)، طیف سنجی فرابنفش- مریی (UV-Vis)، مشخصه یابی جریان-ولتاژ (I-V) و میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) تحلیل شدند. طیف های XRD ساختار مکعبی لایه نازک کادمیوم تلوراید لایه نشانی شده بر روی هر دو زیرلایه ITO و FTO را نشان می دهند. جهت گیری ترجیحی فیلم های لایه نشانی شده نیز از راستای (111) برای زیرلایه ITO به (220) برای زیرلایه FTO تغییر کرد. اندازه بلورینگی لایه ها روی ITO و FTO در این راستاها به ترتیب برابر با حدود 23/41 و 34/84 نانومتر به دست آمد. با استفاده از طیف سنجی UV-Vis در محدوده طول موج nm 200-1200 طیف های عبور از لایه های نازک مشخص شد. گاف انرژی اپتیکی لایه های نازک روی زیرلایه های ITO و FTO به ترتیب eV 1/60 و  eV1/63 محاسبه شد. منحنی I-V رسانایی الکتریکی بیشتر لایه نازک کادمیوم تلوراید بر روی FTO را در مقایسه با ITO نشان می دهد. تصاویر ریخت شناسی سطح، همگنی و یکنواختی سطح را نشان می دهد‏.