بررسی اثر ناخالصی سریوم بر ویژگی های مغناطیسی فیلم های نازک (نانومتری) گارنت ایتریوم آهن بر بسترهای کوارتز

در این پژوهش، لایه های نازک گارنت ایتریم آهن جانشانی شده با سریم، با فرمول عمومی CexY3-xFe5O12 و با مقادیر (7/0و5/0و3/0و1/0و0x=)، به روش سل- ژل و پوشش چرخشی (spin coating) و عملیات گرمادهی بر بسترهای کوارتز تهیه شد. نمونه های تهیه شده، برای بررسی ویژگی های فیزیکی، مورد بررسی قرار گرفتند، اثر ناخالصی Ce بر خواص ساختاری، ریخت شناسی سطح فیلم و ویژگی های مغناطیسی به ترتیب با آنالیز پراش پرتو ایکس (XRD)، میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) و مغناطش سنج ارتعاشی (VSM) مورد بررسی قرار گرفت. تصویر میکروسکوپ نیروی اتمی(AFM) نمونه های تهیه شده نشان می دهد که لایه های نازک دارای سطح پیوسته و هموار هستند.