سنتز و مشخصه یابی ذرات مغناطیسی فریت کلسیم پوشش داده شده با پلی اتیلن گلایکول برای گرمادرمانی

در این پژوهش، سنتز ذرات مغناطیسی فریت کلسیم تک فاز که با پلی اتیلن گلایکول با استفاده از روش سولوترمال پوشش داده شده است، تشریح شده است. بدین منظور، سه نمونه با پوشش پلی اتیلن گلایکول در مقادیر مختلف و یک نمونه بدون پوشش در محیط اتیلن گلایکول سنتز شده است. ترکیب فازی و توزیع کاتیونی نمونه های سنتز شده با استفاده از دستگاه پراش پرتو ایکس و اندازه و شکل ذرات با استفاده از میکروسکوپ الکترونی روبشی نشر میدانی بررسی شده است. نتایج آزمون پراش پرتو ایکس نشان می دهد که ساختار کریستالی تمامی نمونه ها از نوع مکعبی اسپینل با ساختار معکوس جزئی است. تصاویر گرفته شده توسط میکروسکوپ الکترونی روبشی نشر میدانی نشان می دهد که با افزایش درصد پلی اتیلن گلایکول، اندازه ذرات کاهش می یابد. نتایج آزمون طیف سنجی پراکندگی انرژی پرتو ایکس حضور عناصر کلسیم، آهن و اکسیژن را در نمونه سنتز شده فریت کلسیم بدون پوشش تایید می کند. حضور پلی اتیلن گلایکول بر روی نمونه های پوشش داده شده توسط آزمایش ترموگراویمتری نشان داده شده است. خواص مغناطیسی نمونه ها با دستگاه مغناطیس سنج نمونه مرتعش بررسی و میزان مغناطش اشباع حداکثر emu/g 2/51 و حداقل emu/g 9/24 به ترتیب برای نمونه بدون پوشش و برای نمونه با حداکثر میزان پوشش بدست آمده است. همچنین، وجود پلی اتیلن گلایکول بر روی ذرات پوشش یافته توسط کاهش یافتن خاصیت مغناطیسی مواد متناسب با مقدار پوشش مجددا تایید شده است. با استفاده از روش هایپرترمیای مغناطیسی، توانایی تولید گرما توسط ذرات مغناطیسی سنتز شده که تحت یک میدان مغناطیسی متناوب قرار گرفته بودند، بررسی شده و نتایج نشان می دهدکه ذرات سنتز شده بدون پوشش و با حداکثر پوشش به ترتیب دارای میزان اتلاف مغناطیسی W/g 12/1 و W/g 56/0 هستند.