Introduction of Secondary low vacuum detector in the Scanning Electron Microscope
Message:
Abstract:

The difficulties and limitations of imaging with scanning electron microscopy in high vacuum with some samples lead to manufacturing Environmental Scanning Electron Microscope (ESEM) or special detectors with the ability to work in low vacuum conditions. The vacuum rate inside the chamber in high vacuum SEMs, is approximately [10-3] Pa. The imaging in this condition could be done with appropriate quality. But despite of sputtering thick layer of golden coat, in some nonconductive specimens like Hydroxyapatite and porous Nano Silica, charging effect commonly occurs because of the porosity of the material. Some samples like organic wastes, pastes, binders (like oils), lubricants and other additives may be evaporated in high vacuum and imaging process will get into trouble. Also low vacuum usually is applied for biological samples and scaffolds due to their deformation in high vacuum.

Language:
Persian
Published:
Iranian Journal Of Laboratory Knowledge, Volume:6 Issue: 3, 2018
Page:
22
magiran.com/p2055697  
برخی از خدمات از جمله دانلود متن مقالات تنها به مشترکان مگیران ارایه می‌گردد. شما می‌توانید به یکی از روش‌های زیر مشترک شوید:
اشتراک شخصی
در سایت عضو شوید و هزینه اشتراک یک‌ساله سایت به مبلغ 400,000ريال را پرداخت کنید. همزمان با برقراری دوره اشتراک بسته دانلود 100 مطلب نیز برای شما فعال خواهد شد!
پرداخت با کارتهای اعتباری بین المللی از طریق PayPal امکانپذیر است.
اشتراک سازمانی
به کتابخانه دانشگاه یا محل کار خود پیشنهاد کنید تا اشتراک سازمانی این پایگاه را برای دسترسی همه کاربران به متن مطالب خریداری نمایند!
توجه!
  • دسترسی به متن مقالات این پایگاه در قالب ارایه خدمات کتابخانه دیجیتال و با دریافت حق عضویت صورت می‌گیرد و مگیران بهایی برای هر مقاله تعیین نکرده و وجهی بابت آن دریافت نمی‌کند.
  • حق عضویت دریافتی صرف حمایت از نشریات عضو و نگهداری، تکمیل و توسعه مگیران می‌شود.
  • پرداخت حق اشتراک و دانلود مقالات اجازه بازنشر آن در سایر رسانه‌های چاپی و دیجیتال را به کاربر نمی‌دهد.