Annealing temperature effect on nanostructure and phase transition of copper oxide thin films
Author(s):
Abstract:
This paper addresses the annealing temperature effect on nanostructure and phase transition of copper oxide thin films, deposited by PVD method on glass substrate (at 110 nm thickness) and post annealed at different temperatures (200-400°C) with a flow of 1 cm3s-1 Oxygen. The X-ray diffraction (XRD) was employed for crystallographic and phase analyses, while atomic force microscopy (AFM) was used for morphology investigation. The results showed (CuO2) cuprite phase for samples annealed at 200 and 250°C and (CuO) tenorite phase for samples annealed at 350 and 400°C, while sample annealed at 300°C had a complex phases (CuO2 and CuO). The size of the grains increased, but roughness increased and then decreased by increasing of annealing temperature. Furthermore, calculated activation energy from grain diameter (at arrhenius plot) was 0.54 eV.
Keywords:
Language:
English
Published:
International Journal of Nano Dimension, Volume:2 Issue: 3, Winter2012
Pages:
185 to 190
magiran.com/p989840
دانلود و مطالعه متن این مقاله با یکی از روشهای زیر امکان پذیر است:
اشتراک شخصی
با عضویت و پرداخت آنلاین حق اشتراک یکساله به مبلغ 1,390,000ريال میتوانید 70 عنوان مطلب دانلود کنید!
اشتراک سازمانی
به کتابخانه دانشگاه یا محل کار خود پیشنهاد کنید تا اشتراک سازمانی این پایگاه را برای دسترسی نامحدود همه کاربران به متن مطالب تهیه نمایند!
توجه!
- حق عضویت دریافتی صرف حمایت از نشریات عضو و نگهداری، تکمیل و توسعه مگیران میشود.
- پرداخت حق اشتراک و دانلود مقالات اجازه بازنشر آن در سایر رسانههای چاپی و دیجیتال را به کاربر نمیدهد.
In order to view content subscription is required
Personal subscription
Subscribe magiran.com for 70 € euros via PayPal and download 70 articles during a year.
Organization subscription
Please contact us to subscribe your university or library for unlimited access!