به جمع مشترکان مگیران بپیوندید!

تنها با پرداخت 70 هزارتومان حق اشتراک سالانه به متن مقالات دسترسی داشته باشید و 100 مقاله را بدون هزینه دیگری دریافت کنید.

برای پرداخت حق اشتراک اگر عضو هستید وارد شوید در غیر این صورت حساب کاربری جدید ایجاد کنید

عضویت
فهرست مطالب نویسنده:

a. arvaneh

  • علی اروانه، علی اسدی*، سید ابوالفضل حسینی

    در این مطالعه ما با استفاده از کد مونت کارلو MCNP خواص حفاظت در برابر اشعه گاما سیستم شیشه ای با ترکیب با غلظت های مشخص (35، 30، 25، 20، 15، 10، 5 =x  درصد مول) را با محاسبه چندین پارامتر مربوط به تضعیف فوتون مانند لایه نیم جذب (HVL)، پویش آزاد میانگین ​​(MFP)، ضریب تضعیف جرمی (μm)، عدد اتمی موثر (Zeff) و ضریب انباشت (BF) برای سطوح مختلف انرژی در محدودهkeV100-1500 بررسی کردیم. برای تایید نتایج شبیه سازی، نتایج حاصل از شبیه سازی با داده های مستخرج از پایگاه داده  XCOMمقایسه شد. مشاهده شد که داده های مستخرج از پایگاه NIST-XCOM و نتایج کد کامپیوتری MCNP توافق خوبی با یک دیگر دارند. درصد انحراف  (PD)بین داده های مستخرج از پایگاه NIST-XCOM و نتایج حاصل از کد کامپیوتری MCNP در بیش تر موارد کم تر از 59/0 درصد بود. نتایج نشان می دهد که در مقایسه با مواد حفاظ مرسوم مانند بتن و سرب، ترکیب جدید پارامترهای تضعیف موثرتری را علاوه بر خواص فیزیکی نشان می دهد. شیشه با بالاترین غلظت 2TiO از نظر چگالی مطلوب ترین حالت را در مقایسه با مواد حفاظ بررسی شده دارد. در این مطالعه از یکی از روش های کاهش واریانس برای کاهش خطای محاسبات MCNP استفاده شد. توافق بین داده های مستخرج از پایگاه NIST-XCOM و نتایج حاصل از شبیه سازی های این مطالعه نشان می دهد که مدل سازی مونت کارلو یک روش خوب جهت بررسی مشخصات حفاظ پرتوی گاما می باشد.

    کلید واژگان: اشعه گاما، ضریب انباشت، کد MCNP و پایگاه داده XCOM، پارامترهای تضعیف مواد حفاظ
    A. Arvaneh, A. Asadi *, S.A. Hosseini

    In this study, using the MCNP Monte Carlo code, the gamma-ray protection properties of the glass system with the composition of (55-x)Bi2O3-15Pb3O4-20Al2O3-10ZnO-xTiO2 with certain concentrations (35, 30, 25, 20, 15, 10, 5 = mol percent) were examined by calculating the several parameters related to photon attenuation such as half-value layer (HVL), mean free path (MFP), mass attenuation coefficient (𝜇m), effective atomic number (Zeff) and buildup factor (BF) for different energies in the range of 1500-100 keV. To verify the simulation results, a comparison was made with the XCOM database. It was observed that the data extracted from the NIST-XCOM database and the MCNP simulation results are in reasonable agreement with each other. The percentage deviation (PD) between the data extracted from the NIST-XCOM database and the results obtained from the MCNP simulations was less than 0.59% in most cases. The results show that compared to conventional protective materials such as concrete and lead, the new composition shows more effective attenuation parameters in addition to physical properties. The glass with the highest concentration of TiO2 has the most favorable properties in terms of density compared to the investigated protective materials. In this study, one of the variance reduction methods was used in order to reduce the error in MCNP calculations. The agreement between the data extracted from the NIST-XCOM database and the results of the simulations of this study shows that Monte Carlo modeling is an effective method to investigate gamma-ray shielding characteristics.

    Keywords: gamma-ray, Buildup factor, MCNP code, the XCOM database, Attenuation parameters Shielding materials
سامانه نویسندگان
  • امیررضا اروانه
    امیررضا اروانه
    دانشجوی کارشناسی ارشد شیمی، دانشگاه شیراز، شیراز، ایران
اطلاعات نویسنده(گان) توسط ایشان ثبت و تکمیل شده‌است. برای مشاهده مشخصات و فهرست همه مطالب، صفحه رزومه ایشان را ببینید.
بدانید!
  • در این صفحه نام مورد نظر در اسامی نویسندگان مقالات جستجو می‌شود. ممکن است نتایج شامل مطالب نویسندگان هم نام و حتی در رشته‌های مختلف باشد.
  • همه مقالات ترجمه فارسی یا انگلیسی ندارند پس ممکن است مقالاتی باشند که نام نویسنده مورد نظر شما به صورت معادل فارسی یا انگلیسی آن درج شده باشد. در صفحه جستجوی پیشرفته می‌توانید همزمان نام فارسی و انگلیسی نویسنده را درج نمایید.
  • در صورتی که می‌خواهید جستجو را با شرایط متفاوت تکرار کنید به صفحه جستجوی پیشرفته مطالب نشریات مراجعه کنید.
درخواست پشتیبانی - گزارش اشکال