به جمع مشترکان مگیران بپیوندید!

تنها با پرداخت 70 هزارتومان حق اشتراک سالانه به متن مقالات دسترسی داشته باشید و 100 مقاله را بدون هزینه دیگری دریافت کنید.

برای پرداخت حق اشتراک اگر عضو هستید وارد شوید در غیر این صورت حساب کاربری جدید ایجاد کنید

عضویت
جستجوی مقالات مرتبط با کلیدواژه

time monitoring ridge regression statistical process control

در نشریات گروه مواد و متالورژی
تکرار جستجوی کلیدواژه time monitoring ridge regression statistical process control در نشریات گروه فنی و مهندسی
تکرار جستجوی کلیدواژه time monitoring ridge regression statistical process control در مقالات مجلات علمی
  • M. A. Fattahzadeh, A. Saghaei *
    Today, with the growth of technology, monitoring processes by the use of video and satellite sensors have been more expanded, due to their rich and valuable information. Recently, some researchers have used sequential images for defect detection because a single image is not sufficient for process monitoring. In this paper, by adding the time dimension to the image-based process monitoring problem, we detect process changes (such as the changes in the size, location, speed, color, etc.). The temporal correlation between the images and the high dimensionality of the data make this a complex problem. To address this, using the sequential images, a statistical approach with RIDGE regression and a Q control chart is proposed to monitor the process. This method can be applied to color and gray images. To validate the proposed method, it was applied to a real case study and was compared to the best methods in literature. The obtained results showed that it was more effective in finding the changes.
    Keywords: Control Chart Image Processing Real, Time Monitoring Ridge Regression Statistical Process Control
نکته
  • نتایج بر اساس تاریخ انتشار مرتب شده‌اند.
  • کلیدواژه مورد نظر شما تنها در فیلد کلیدواژگان مقالات جستجو شده‌است. به منظور حذف نتایج غیر مرتبط، جستجو تنها در مقالات مجلاتی انجام شده که با مجله ماخذ هم موضوع هستند.
  • در صورتی که می‌خواهید جستجو را در همه موضوعات و با شرایط دیگر تکرار کنید به صفحه جستجوی پیشرفته مجلات مراجعه کنید.
درخواست پشتیبانی - گزارش اشکال