به جمع مشترکان مگیران بپیوندید!

تنها با پرداخت 70 هزارتومان حق اشتراک سالانه به متن مقالات دسترسی داشته باشید و 100 مقاله را بدون هزینه دیگری دریافت کنید.

برای پرداخت حق اشتراک اگر عضو هستید وارد شوید در غیر این صورت حساب کاربری جدید ایجاد کنید

عضویت
جستجوی مقالات مرتبط با کلیدواژه

local binary patterns

در نشریات گروه مواد و متالورژی
تکرار جستجوی کلیدواژه local binary patterns در نشریات گروه فنی و مهندسی
تکرار جستجوی کلیدواژه local binary patterns در مقالات مجلات علمی
  • I. Firouzian *, N. Firouzian, S. M. R. Hashemi, E. Kozegar
    Monitoring the facial expressions of patients in clinical environments is a necessity in addition to vital sign monitoring. Pain monitoring of patients by facial expressions from video sequences eliminates the need for another person to accompany patients. In this paper, a novel approach is presented to monitor the expression of face and notify in case of pain using tracking fiducial points of face in video sequences and spatio-temporal Local Binary Patterns (LBPs) for eyes and eyebrows. The motion of eight fiducial points on facial features such as mouth, eyes, eyebrows are tracked by Lucas-Kanade algorithm and the movement angles are recorded in a feature vector which along with the spatio-temporal histogram of LBPs creates a concatenated feature vector. Spatio-temporal LBPs boost the proposed algorithm to capture minor deformations on eyes and eyebrows. The feature vectors are then compared and classified using the Chi-square similarity measure. Experimental results show that leveraging spatio-temporal LBPs improves the accuracy by 12% on STOIC database.
    Keywords: Facial expression, Tracking fiducial points, Spatio-temporal, Local Binary Patterns, Pain expression, Video sequences
نکته
  • نتایج بر اساس تاریخ انتشار مرتب شده‌اند.
  • کلیدواژه مورد نظر شما تنها در فیلد کلیدواژگان مقالات جستجو شده‌است. به منظور حذف نتایج غیر مرتبط، جستجو تنها در مقالات مجلاتی انجام شده که با مجله ماخذ هم موضوع هستند.
  • در صورتی که می‌خواهید جستجو را در همه موضوعات و با شرایط دیگر تکرار کنید به صفحه جستجوی پیشرفته مجلات مراجعه کنید.
درخواست پشتیبانی - گزارش اشکال