مدل سازی وارون و تفسیر دو بعدی داده های نیم رخ زنی آرایه الکترومغناطیسی (EMAP)

روش نیم رخ زنی آرایه الکترومغناطیسی (Electromagnetic Array Profiling) یاEMAP یک حالت خاص از اندازه گیری های میدان مگنتوتلوریک (Magnetotelluric: MT) محسوب می شود. در این تحقیق داده های نیم رخ زنی آرایه الکترومغناطیسی منطقه اکلاهومای آمریکا شامل 93 دوقطبی الکتریکی مورد بررسی قرار گرفته است. ابتدا پردازش داده ها و حذف داده های نامناسب از نظر میزان نوفه و جداسازی محدوده مناسب بسامد برای مدل سازی داده ها صورت گرفته است. سپس با اجرای طرح واره های وارون سازی دو بعدی گرادیان مزدوج غیرخطی (NLCG) و اکام (Occam) روی این داده ها مدل های وارون برای تفسیر ساختار های زمین شناسی منطقه عرضه شده است. همچنین داده های چهار سونداژ مگنتوتلوریک (زمین مغناط برقی) با پنج مولفه مرسوم روی یک نیم رخ عمود بر امتداد برداشت داده های نیم رخ زنی آرایه الکترومغناطیسی نیز مورد بررسی قرار گرفته است و نتایج وارون سازی این داده ها نیز در تفسیر ساختار های زمین شناسی منطقه استفاده شده است. نتایج نشان می دهد که پردازش داده های اولیه و کنترل پارامتر های وارون سازی از جمله طراحی شبکه مناسب برای مدل سازی، مدل شروع، ضریب لاگرانژ و مقدار نبود برازش هدف برای تولید یک مدل مناسب بسیار موثر هستند و لذا با کنترل این پارامتر ها توانایی طرح واره های گرادیان مزدوج غیرخطی و اکام در مقایسه با سایر روش های مدل سازی وارون مشخص شده است. همچنین توانایی داده های نیم رخ زنی آرایه الکترومغناطیسی در به دست آوردن توزیع مقاومت ویژه رسوبات زیرسطحی مشخص شده است.