Parametric Empirical Bayes Test and Its Application to Selection of Wavelet Threshold

Author(s):

Mona Shokripour , Adel Mohammadpour , Mina Aminghafari*

Message:
Article Type:
Research/Original Article (دارای رتبه معتبر)
Abstract:

In this article, we propose a new method for selecting level dependent threshold in wavelet shrinkage using the empirical Bayes framework. We employ both Bayesian and frequentist testing hypothesis instead of point estimation method. The best test yields the best prior and hence the more appropriate wavelet thresholds. The standard model functions are used to illustrate the performance of the proposed method and make comparisons with other traditional methods.

Keywords:

Bayes test , parametric empirical Bayes , most powerful test , heavy tailed distribution , unbiased test , wavelet thresholding

Language:
English
Published:
Journal of Statistical Research of Iran, Volume:9 Issue: 2, 2013
Page:
133
magiran.com/p1207736  
دانلود و مطالعه متن این مقاله با یکی از روشهای زیر امکان پذیر است:
اشتراک شخصی
با عضویت و پرداخت آنلاین حق اشتراک یک‌ساله به مبلغ 1,390,000ريال می‌توانید 70 عنوان مطلب دانلود کنید!
اشتراک سازمانی
به کتابخانه دانشگاه یا محل کار خود پیشنهاد کنید تا اشتراک سازمانی این پایگاه را برای دسترسی نامحدود همه کاربران به متن مطالب تهیه نمایند!
اطلاعات بیشتر
توجه!
  • حق عضویت دریافتی صرف حمایت از نشریات عضو و نگهداری، تکمیل و توسعه مگیران می‌شود.
  • پرداخت حق اشتراک و دانلود مقالات اجازه بازنشر آن در سایر رسانه‌های چاپی و دیجیتال را به کاربر نمی‌دهد.
In order to view content subscription is required

Personal subscription
Subscribe magiran.com for 70 € euros via PayPal and download 70 articles during a year.
Organization subscription
Please contact us to subscribe your university or library for unlimited access!
More information