مدل سازی حجم حساس در محاسبه سطح مقطع آسیب پرتویی SEU ناشی از پرتوهای فضایی

یکی از مهم ترین پارامتر ها در محاسبه سطح مقطع آسیب SEUناشی از پرتوهای فضایی، شکل و اندازه حجم حساس سلول حافظه الکترونیکی است. تاکنون مدل های مختلفی برای محاسبه حجم حساس ارائه شده است، لیکن ارزیابی جامعی از میزان انطباق نتایج حاصل از به کارگیری این مدل ها با نتایج تجربی صورت نگرفته است.در این مقاله، نتایج حاصل از مدل هایRPP، Tetrahedralو NestedSensitiveVolumeبرای محاسبه حجم حساس سلول حافظه الکترونیکی مقایسه می شود. در این محاسبات، اثر لایه هایفلزی و اکسیدی و همچنین اثر پهنشدگی انرژی درنظرگرفته شده است. این محاسبات با استفاده از کد مونت کارلو GEANT4 انجام شده است. نتایج مقایسه پاسخ محاسبات انجام شده و آزمایش های تجربی برای حافظه الکترونیکیAT60142، بیانگر این است که مدل RPP اختلاف زیادی با نتایج آزمایش های عملی دارد و مدلTetrahedral با وجود پاسخ نسبتا قابل قبول در LETهای کم در LET های بالا همچنان اختلاف زیادی با نتایج آزمایش های عملی نشان می دهد. در نهایت مدل Nested Sensitive Volume که در تمامی LET ها پاسخ مناسبی دارد، دارای نزدیک ترین پاسخ به نتایج آزمایش های عملی است.