Numerical study of material properties, residual stress and crack development in sintered silver nano-layers on silicon substrate
Author(s):
Abstract:
In order to improve the performance of thin lm devices, it is necessary to characterize their mechanical, as well as electrical, properties. In this work, a model is developed for analysis of the mechanical and electrical properties and the prediction of residual stresses in thin lms of silver nanoparticles deposited on silicon substrates. The model is based on inter-particle di usion modeling and nite element analysis. Through simulation of the sintering process, it is shown how the geometry, density, and electrical resistance of the thin lm layers are changed by sintering conditions. The model is also used to approximate the values of Young''s modulus and the generated residual stresses in the thin lm in the absence and presence of cracks in the lm. The results are validated through comparing them with available experimental data.
Keywords:
Language:
English
Published:
Scientia Iranica, Volume:23 Issue: 3, 2016
Page:
1037
magiran.com/p1556333
دانلود و مطالعه متن این مقاله با یکی از روشهای زیر امکان پذیر است:
اشتراک شخصی
با عضویت و پرداخت آنلاین حق اشتراک یکساله به مبلغ 1,390,000ريال میتوانید 70 عنوان مطلب دانلود کنید!
اشتراک سازمانی
به کتابخانه دانشگاه یا محل کار خود پیشنهاد کنید تا اشتراک سازمانی این پایگاه را برای دسترسی نامحدود همه کاربران به متن مطالب تهیه نمایند!
توجه!
- حق عضویت دریافتی صرف حمایت از نشریات عضو و نگهداری، تکمیل و توسعه مگیران میشود.
- پرداخت حق اشتراک و دانلود مقالات اجازه بازنشر آن در سایر رسانههای چاپی و دیجیتال را به کاربر نمیدهد.
In order to view content subscription is required
Personal subscription
Subscribe magiran.com for 70 € euros via PayPal and download 70 articles during a year.
Organization subscription
Please contact us to subscribe your university or library for unlimited access!