سنتز دما پایین نانوساختارهای اکسید روی به روش تجزیه حرارتی با عوامل رسوب دهنده اگزالیک اسید و هیدروکسید آمونیوم

در این پژوهش نانوساختارهای اکسید روی به روش تجزیه حرارتی و با دو عامل رسوب دهنده اگزالیک اسید و هیدروکسید آمونیوم سنتز شدند. بررسی فازی، مورفولوژی و تعیین ساختار پودر حاصل، به ترتیب بوسیله آنالیز پراش اشعه ایکس (XRD)، میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) و طیف سنجی مادون قرمز (FT-IR) مورد ارزیابی قرار گرفت. نتایج طیف سنجی مادون قرمز و آنالیز پراش اشعه ایکس تایید کننده تشکیل نانوساختارهای اکسید روی با هر دو عامل رسوب دهنده بودند. طبق نتایج تشکیل نانوساختارهای تک فاز اکسید روی پس از عملیات حرارتی هر دو نمونه در دمای °C 450 به مدت 2 ساعت بود. همچنین درجه بلورینگی بیشتر در حالت استفاده از عامل رسوب دهنده اگزالیک اسید رخ داد. همچنین نتایج SEM نشان دهنده مورفولوژی کروی و میله ای ذرات به ترتیب در حالت استفاده از عوامل رسوب دهنده اگزالیک اسید و هیدروکسید آمونیوم بود.