گرافن اکسید کربوکسیله به عنوان لایه ی تزریق کننده ی حفره ی موثر در دیود نورگسیل پلیمری

در این مقاله، دیود نورگسیل پلیمری (PLED) با پیکربندی glass/ITO/GO-COOH/MEH-PPV/Al ساخته شد. ابتدا لایه ی نازک ایندیوم قلع اکسید (ITO) بر روی زیرلایه های شیشه ای به روش کندوپاش فرکانس رادیویی (RF) لایه نشانی و سپس تاثیر گرافن اکسید کربوکسیله ی (GO-COOH) سنتزی به عنوان لایه ی تزریق کننده ی حفره (HIL) بر روی عملکرد PLEDساخته شده با پلی (2- متوکسی- 5- (ʹ2- اتیل هگزیلوکسی)-1، 4- فنیلن وینیلن) (MEH-PPV) مورد بررسی قرار گرفت. هم چنین، خواص الکتریکی و نوری الکترود شفاف ITO اندازه گیری شد. در نهایت، عملکرد دیود ساخته شده بررسی و با PLED ساخته شده با پلی (3، 4- اتیلن دی اکسی تیوفن): پلی (استایرن سولفونات) (PEDOT:PSS) به عنوان HIL مورد مقایسه قرار گرفت. به منظور تخمین ارتفاع سد پتانسیل تزریق حفره ی (j) PLEDs ساخته شده، از مدل تونل زنی فاولر- نوردهایم (FN) استفاده شد. نتایج نشان می دهد که GO-COOH تزریق حفره در داخل ساختار PLED را بهبود داده و سبب کاهش ولتاژ روشن شدن قطعه می شود. بنابراین، GO-COOH می تواند به عنوان یک HIL مناسب در PLEDs و هم چنین سایر افزاره های میکرو و نانو الکترونیکی استفاده شود.