محاسبه ضریب تضعیف جرمی کامپوزیت های حاوی نانو و میکروذرات اکسید مس برای پرتوهای X تشخیصی

حفاظت در برابر پرتو و انتخاب مواد مناسب جهت تضعیف پرتو به عنوان یکی از شاخه های مهم در علم پرتو پزشکی و صنایع مربوط پرتو است. در این مقاله، ضرایب تضعیف جرمی ، ضخامت های نیم لایه و ضخامت های معادل mm 5/0 سرب برای کامپوزیت پلی وینیل کلراید حاوی نانو و میکرو ذرات اکسید مس به طور تجربی به ازای ولتاژهای مختلف kV 40، 60 و 80 پرتو ایکس محاسبه شده است. نتایج به دست آمده نشان می دهند که در ولتاژهای 40 و 60 کیلوولت، کامپوزیت های حاوی نانوذرات نسبت به کامپوزیت های حاوی میکروذرات عملکرد حفاظتی بهتری دارند اما در ولتاژ 80 کیلوولت، کامپوزیت حاوی میکروذرات محافظ بهتری هستند. مقدار ضریب تضعیف جرمی کامپوزیت حاوی میکروذرات اکسید مس در ولتاژ های پرتو ایکس به وسیله کد شبیه سازی MCNP به دست آمده و با نتایج تجربی مقایسه شده است.