ارزیابی زبری سطح نانو لایه های پلی آکریلونیتریل

هدف اصلی این پژوهش، بررسی زبری سطح لایه های حاصل از نانوالیاف پلی کریلونیتریل(PAN) است. به این منظور با تغییر غلظت محلول PAN از 11 به 15 درصد وزنی، لایه هایی از نانوالیافPAN تهیه شد. سپس، با استفاده از روش آنتروپی(ENT) و میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) زبری سطح لایه ها اندازه گیری و نتایج حاصل از دو روش مقایسه شد. برای ارزیابی زبری سطح با استفاده از روش AFM، مشخصه های زبری شامل ماکزیمم ارتفاع تصویر، متوسط ارتفاع ده نقطه، میانگین حسابی زبری و جذر میانگین مربعات زبری محاسبه شدند و از مشخصه میانگین حسابی زبری به عنوان شاخص زبری سطح استفاده شد. با توجه به نتایج، مشاهده شد که افزایش غلظت محلولPAN از 11 به 15 درصد وزنی، منجر به افزایش قطر نانوالیاف حاصل از 195 بهnm 524 شده است. همچنین، نتایج به دست آمده از اندازه گیری زبری سطح به هر دو روشAFM وENT نشان دهنده افزایش زبری سطح لایه ها با افزایش قطر الیاف تشکیل دهنده آنهاست. در بررسی های آماری انجام شده ملاحظه شد که ضریب همبستگی بین نتایج زبری سطح حاصل از هر دو روش و قطر نانوالیاف بیش از 9/0 است. همچنین، مشاهده شد بین زبری سطح به دست آمده از دو روش از نظر آماری توافق خوبی وجود دارد.