بررسی اثرات تخریبی یون های آرگون و هیدروژن تولید شده در دستگاه پلاسمای کانونی بر روی گرافیت
اثرات تخریبی تابش یون های پر انرژی هیدروژن و آرگون تولید شده در دستگاه پلاسمای کانونی نوع مدر MTPF-2 بر روی خواص سطحی و ساختاری گرافیت بررسی شد. نمونه های خام و تابش دهی شده با استفاده از میکروسکوپ الکترونی روبشی تجزیه و تحلیل شد. در نمونه های تابش دهی شده با یون های هیدروژن، کندو پاش های نقطه ای، خلل و فرج در سطح نمونه ها به همراه ذوب شدگی نقطه ای دیده شد. پدیده غالب در سطح نمونه تابش دهی شده با یون آرگون کندو پاش فیزیکی ذرات از سطح گرافیت است. از تجزیه و تحلیل پراش اشعه ایکس برای بررسی تغییرات ایجاد شده در اثر تابش پروتون ها و یون های آرگون پر انرژی بر روی ساختار گرافیت استفاده شد. در طیف پراش اشعه ایکس نمونه های تابش دهی شده، جابه جایی در مکان قله ها و تغییر شدت قله ها نسبت به طیف پراش اشعه ایکس نمونه مرجع مشاهده شد. به طوری که مکان قله ها نمونه گرافیت تابش دهی شده با هیدروژن و نمونه تابش دهی شده با آرگون به سمت زوایای کوچکتر جابه جا شده است. میزان جابجایی مکان قله ها در نمونه تابش دهی شده با پروتون ها نسبت به جابجایی حاصله بوسیله یون های آرگون بیشتر است.
- حق عضویت دریافتی صرف حمایت از نشریات عضو و نگهداری، تکمیل و توسعه مگیران میشود.
- پرداخت حق اشتراک و دانلود مقالات اجازه بازنشر آن در سایر رسانههای چاپی و دیجیتال را به کاربر نمیدهد.