یک مدل سطح بالا برای وارسی خواص CTL در طرح توصیف شده توسط VHDL
نویسنده:
چکیده:
در این مقاله قصد داریم مدل سطح بالایی بر پایه معادلات چند جمله ای با متغیرهای صحیح ارائه دهیم که مناسب برای وارسی خواص بر پایه ctl می باشد. اکثر ابزارهای وارسی از ساختمان داده های سطح پایینی مانند bdd استفاده می کنند و این ساختمان داده ها به علت نیاز به حافظه زیاد، قابل اعمال به بخش مسیر داده از یک طرح نمی باشند، در حالی که مدل سطح بالای پیشنهادی در این...
کلیدواژگان:
زبان:
فارسی
در صفحه:
92
لینک کوتاه:
magiran.com/p470642
دانلود و مطالعه متن این مقاله با یکی از روشهای زیر امکان پذیر است:
اشتراک شخصی
با عضویت و پرداخت آنلاین حق اشتراک یکساله به مبلغ 1,390,000ريال میتوانید 70 عنوان مطلب دانلود کنید!
اشتراک سازمانی
به کتابخانه دانشگاه یا محل کار خود پیشنهاد کنید تا اشتراک سازمانی این پایگاه را برای دسترسی نامحدود همه کاربران به متن مطالب تهیه نمایند!
توجه!
- حق عضویت دریافتی صرف حمایت از نشریات عضو و نگهداری، تکمیل و توسعه مگیران میشود.
- پرداخت حق اشتراک و دانلود مقالات اجازه بازنشر آن در سایر رسانههای چاپی و دیجیتال را به کاربر نمیدهد.
In order to view content subscription is required
Personal subscription
Subscribe magiran.com for 70 € euros via PayPal and download 70 articles during a year.
Organization subscription
Please contact us to subscribe your university or library for unlimited access!