مطالعه پروفایلومتری و میکروسکوپ الکترونی اثر پرداخت بر خشونت سطحی دو نوع کامپوزیت (با بیس سایلوران و متیل متاکریلات) و یک نوع گلاس آینومر

هدف از مطالعه حاضر بررسی اثر پرداخت بر خشونت سطحی کامپوزیت با بیس سایلوران و مقایسه آن با کامپوزیت با بیس متاکریلات و یک نوع گلاس آینومر به وسیله پروفایلومتری و مطالعه با میکروسکوپ الکترونی (SEM) بود.
برای هرکدام از مواد مورد مطالعه (کامپوزیت Filltek P90، کامپوزیت Filtek P60 و گلاس آینومر Fuji IX) 28 نمونه تهیه شد. آماده سازی نمونه ها در مولد پلی اتیلن با قطر 4 میلی متر و ارتفاع 10 میلی متر انجام شد. نیمی از نمونه های هر ماده توسط کاغذ سنباده 180 grit از جنس سیلیکون کارباید و در حضور آب اتمام (finish) شد. سطح نیمی دیگر از نمونه ها ابتدا با کاغذ سنباده 180 grit و سپس به ترتیب با کاغذ سنباده های 250، 400، 800، 1000، 2000 و 2500 grit و در حضور آب پرداخت گردید. خشونت سطحی نمونه ها توسط پروفایلومتر تماسی بررسی شد و مقادیر متوسط خشونت سطحی (Ra) و حداکثر خشونت سطحی (Rmax) توسط دستگاه مشخص گردید. سپس از هر 6 گروه مورد مطالعه، 4 نمونه به صورت تصادفی انتخاب گردید و تحت میکروسکوپ الکترونی FE-SEM سطح آنها بررسی شد. آنالیز آماری توسط آزمون t، آنالیز واریانس و آزمون Dunnett T3 انجام شد.
در هر 3 ماده، Ra بین 180 و 2500grit متفاوت بود. در 180 grit، Ra تنها بین Filtek P60 و Fuji IX اختلاف معنی داری داشت (01/0P=). Ra با استفاده از سمباده 2500grit تنها بین Filtek P90 و Filtek P60 تفاوت معنی داری نشان نداد (56/0P=).
در گلاس آینومر و ترمیم های کامپوزیتی خلفی مرحله پرداخت توصیه می شود.